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    維修Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

    關(guān)鍵詞:Werth ,Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描

    日期:2020-07-10作者:未知
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    維修Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

    Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于頂部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面,可同時(shí)測量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

    作為測量儀器,該掃描儀是當(dāng)今**上測量二維工件的二維掃描儀).


    主要特點(diǎn):
    ◆ 高速的矩陣式掃描系統(tǒng),適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的二維測量
    ◆ 工業(yè)圖像處理系統(tǒng),掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
    ◆ 被測工件可任意位置放置
    ◆ 模塊化的測量軟件
    ◆ 利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
    ◆ 快捷方便的WinWerth評(píng)估軟件
    ◆ WinWerth軟件CAD在線和公差擬合測量
    ◆ 平面光源
    ◆ 精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定  
     
    技術(shù)參數(shù):
    測量范圍(玻璃工作臺(tái)?尺寸):
    X = 400/650mm
    Y = 200/400/600mm
    工件高度:Z = 100mm
    光柵尺分辨率:0.1μm

    測量機(jī)允許誤差:

    變焦:
    1)E1: (2.5+L/120) μm
     E2: (2.9+L/100) μm

    固定鏡頭 0.4x:
    2)E1: (4.9+L/100) μm
     E2: (4.9+L/75) μm

    固定鏡頭 0.2x:
    2)E1: (9+L/100) μm
     E2: (9+L/75) μm

    1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度 Δ=1度/h
    依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617