用XRD和XRF組合技術(shù)對(duì)材料進(jìn)行**分析
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利用2維傳輸XRD技術(shù)進(jìn)行礦物學(xué)-結(jié)晶相分析
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使用能量色散XRF技術(shù)進(jìn)行元素分析
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數(shù)據(jù)與結(jié)果的整合天衣無(wú)縫
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節(jié)省了操作成本、空間和時(shí)間
BTX Profiler所使用的創(chuàng)新型XRD技術(shù)是美國(guó)國(guó)家航空航天局成功的火星科學(xué)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目中的“好奇”號(hào)漫游者曾經(jīng)使用過的技術(shù)。它所采用的另一種技術(shù)是Olympus的X射線分析儀所使用的廣受贊譽(yù)、**實(shí)用的XRF技術(shù)。
